나노스코프시스템즈

KOR

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Company

특허

No.	발명의 명칭	등록번호	출원일
1	3차원 형상 측정 장치	10-0992029	2006. 12. 11.
2	빔 스캐닝 방식의 크로마틱 공초점 현미경	10-0964251	2008. 8. 8.
3	리니어 터렛 스캐너	10-1032434	2011. 3. 18
4	빔 편향 장치	10-1119815	2011. 4. 5.
5	다중 검출 공초점 현미경	10-1181395	2012. 9. 4.
6	색 필터를 이용한 파장 검출기 및 상기 파장 검출기를 구비한 고속 크로마틱 공초점 현미경	10-1368486	2012. 11. 5.
7	공초점 라인스캔 카메라 및 이를 포함한 공초점 현미경	10-1612512	2014. 8. 4.
8	곡선 터렛	10-1727709	2017. 4. 17
9	두께 측정 장치	10-1872434	2018. 6. 22

인증서

ISO 9001
ISO 14001
CE NS3500
CE K1-Fluo
CE NS-Raman
KC NS-Raman